ARM技術(shù)總監(jiān)：可使用每瓦性能來取代摩爾定律

　　近日ARM的研究員及技術(shù)總監(jiān)Rob Aitken在公司官方博客上發(fā)布了一篇文章，文章聲稱芯片生產(chǎn)范式正在改變，其建議將每瓦性能作為芯片設(shè)計的指標(biāo)，取代原先的摩爾定律，每瓦性能是其引入新范式標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)旨在讓工程師以更少的功耗達(dá)到指定的性能指數(shù)。

　　摩爾定律是由英特爾創(chuàng)始人之一戈登·摩爾首次提出，根據(jù)摩爾的說法，芯片上的晶體管密度每18個月就會翻一番，隨之而來的便是芯片性能的翻倍，雖被稱為定律，其實只是對芯片行業(yè)規(guī)律的總結(jié)而已。

　　可是Rob Aitken在文中表示目前芯片領(lǐng)域已經(jīng)遇到瓶頸，因為目前工藝已經(jīng)逼近原子水平，摩爾定律已經(jīng)開始失效。

　　根據(jù)Rob Aitken觀點，雖然隨著芯片上的晶體管密度的增加，芯片的性能也會增加，但是其實整個系統(tǒng)卻越發(fā)低效，所以其建議為芯片生產(chǎn)行業(yè)引入庫米定律以及每瓦性能的新范式標(biāo)準(zhǔn)，庫米定律描述的是每焦耳的計算次數(shù)這一指標(biāo)每18個月翻一倍。